تغير الحقل الحرج في الأغشية الرقيقة باختلاف نوع المسند المستخدم
No Thumbnail Available
Date
2018
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
جامعة العربي التبسي تبسة
Abstract
لقد حضرت نوعين من العينات تحتوي على الأغشية الرقيقة Ag/Fe بواسطة تقنية الترسيب الموجه
بالقذف الجزيئي تحت الفراغ الفائق ودرجة حرارة الغرفة، الفرق الوحيد بينهما هو نوع المسند المستخدم:
tAg ، فان المسند كان اوكسيد المغنزيوم (001(MgO أحادي 1 فبالنسبة للنوع الأول والذي رمزنا له بالرمز E
tAg ، وكان المسند (100 (Si/SiO2 ثلاثي التبلور. 2 التبلور، اما النوع الثاني فإننا رمزنا له بالرمز E
سمك الطبقة المغناطيسية المحضرة من الحديد ثابت ويساوي 300Å ، أما سمك الطبقة البينية
المحضرة من الفضة فيتغير من 0Å إلى 150Å ،والهدف من تغيير هذا السمك هو تعزيز الدراسة، بمعرفة
تأثير نوع المسند المستخدم على الحقل الحرج المطبق على العينات لإزالة تمغنطها المتبقي. ولقد درست
الخصائص المغناطيسية لهذه العينات باستخدام تقنية المغنطو ضوئية لتأثير كير بتطبيق حقل مغناطيسي
خارجي موازي للزاوية 00 °و 45 °بالنسبة للاتجاه 100 لطبقة الحديد. تحليل منحنيات التخلف
المغناطيسي أكدت تعلق كل من: نوع الاستجابة الفيرومغناطيسي، قيمة الحقل الحرج، والتربيع المغناطيسي
بنوعية المسند المستخدم
Description
Keywords
O, Fe ,Ag, Si, SiO2, المسند ,أحادي التبلور,ثلاثي التبلور ,طبقة بينية ,مغنطة التشبع ,المغنطة المتبقية, دورة التخلف المغناطيسي , حقل التشبع ,التربيع المغناطيسي., MgO, SiO2, Si, Ag, Fe, substrat, monocristallin, polycristalline ,couche tampon , aimantation de saturation ,aimantation rémanente, cycle de retard magnétique, le champ coercitif, la rectangularité., MgO, SiO2, Si, Ag, Fe, substrate, single-crystalline, polycrystalline, buffer layer, saturation magnetization, remanent magnetization, magnetic retardation cycle, coercive field, squerness.