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Méthodes de détermination par diffraction des rayons X des paramètres du réseau cristallin : Application aux métaux purs et aux alliages

dc.contributor.authorHAMAISSIA , Mohamed Amine/ Encadré par TORCHANE, Lazhar
dc.date.accessioned2024-09-09T09:15:25Z
dc.date.available2024-09-09T09:15:25Z
dc.date.issued2024
dc.description.abstractCette mémoire porte sur une étude utilisant la diffraction des rayons X sur des échantillons en poudre pour déterminer les paramètres du réseau cristallin. Elle est appliquée à des métaux purs (plomb, bismuth, antimoine) ainsi qu'à deux alliages spécifiques : 90%Pb-5%Sb-5%Bi et 80%Pb-10%Sb-10%Bi. L'objectif est d'analyser et de comparer les structures cristallines de ces matériaux pour comprendre leurs propriétés physiques et chimiquesen_US
dc.description.provenanceSubmitted by Tom User (dspacest@univ-tebessa.dz) on 2024-09-09T09:15:25Z No. of bitstreams: 1 Méthodes de détermination par diffraction des.pdf: 6911260 bytes, checksum: af52adfddeb976be342e4bd10557a758 (MD5)en
dc.description.provenanceMade available in DSpace on 2024-09-09T09:15:25Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Méthodes de détermination par diffraction des.pdf: 6911260 bytes, checksum: af52adfddeb976be342e4bd10557a758 (MD5) Previous issue date: 2024en
dc.identifier.urihttp//localhost:8080/jspui/handle/123456789/11824
dc.language.isofren_US
dc.publisherUNIVERSITE DE ECHAHID CHEIKH LARBI TEBESSIen_US
dc.subjectPb , Bi , Sb , DRXen_US
dc.titleMéthodes de détermination par diffraction des rayons X des paramètres du réseau cristallin : Application aux métaux purs et aux alliagesen_US
dc.typeThesisen_US

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