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Modelisation et similationd une cellule mémoire EEPROM par TCAD-Silvaco

dc.contributor.authorGHERAIBIA, Farida
dc.contributor.authorKENNAZ, Nadjoua
dc.date.accessioned2022-03-24T10:06:16Z
dc.date.available2022-03-24T10:06:16Z
dc.date.issued2020
dc.description.abstractLa simulation des caractéristiques de la mémoire EEPROM est fondamentale pour la conception et l’optimisation de produits de mémoire non volatile de faible puissance. La simulation des différentes étapes avec simulateur (TCAD) du transistor MOS à grille flottante utilisé habituellement dans les cellules EEPROM à mémoire non volatile effaçable électrique est présentée. Afin de comprendre les mécanismes de transport de charge pour les dispositifs MOS, le Simulateur (TCAD) a permis une simulation et des études des propriétés électriques à savoir capacité-tension (C-V) et les caractéristiques notamment courants-tension (I-V) des structures MOS. Principalement, l’extraction des paramètres de Fowler-Nordheim dans un oxyde mince (polysilicium) SiO2 est présentée.en_US
dc.description.provenanceSubmitted by snv snv (dspace.snv@univ-tebessa.dz) on 2022-03-24T10:06:16Z No. of bitstreams: 1 Master Ghraibia et Kenaz.pdf: 5836271 bytes, checksum: eb856113f2f72c70e65772483a6411cf (MD5)en
dc.description.provenanceMade available in DSpace on 2022-03-24T10:06:16Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Master Ghraibia et Kenaz.pdf: 5836271 bytes, checksum: eb856113f2f72c70e65772483a6411cf (MD5) Previous issue date: 2020en
dc.description.sponsorshipN. Rouagen_US
dc.identifier.urihttp//localhost:8080/jspui/handle/123456789/2327
dc.language.isofren_US
dc.publisherUniversite laarbi tebessi tebessaen_US
dc.titleModelisation et similationd une cellule mémoire EEPROM par TCAD-Silvacoen_US
dc.typeThesisen_US

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